Symposium

15: Tomographische Methoden zur Materialcharakterisierung

Tiefe und präzise Einblicke mit Synchrotronstrahlung und Neutronen
Die Computertomographie hat sich als robustes Werkzeug zur Charakterisierung von Materialsystemen auf verschiedenen Längenskalen etabliert. Die erreichbaren hohen räumlichen Auflösungen im Mikrometerbereich (Mikrotomographie – µCT) erlauben dem Materialforscher einfachen Zugang zu einem zerstörungsfreien „3D-Mikroskop“. Moderne µCT-Hardware bietet die Möglichkeit, neue Kontrastmodi einzusetzen, die z.B. die Elektronendichte abbilden, um die Dichteauflösung zu steigern (Röntgen-Phasenkontrast, u.a. um Kohlenstofffasern in Kompositen oder Rissausbreitung zu untersuchen) oder die Brechung des Röntgenlichts ausnutzen (Beugungskontrast, um z.B. Körner im Gefüge sichtbar zu machen). Ganz neue Anwendungsfelder ergeben sich, wenn man Großgeräte als Lichtquellen für die µCT einsetzt: Synchrotron-Röntgenquellen sind sehr intensiv und erlauben ultra-schnelle Belichtungszeiten, um kinetische Vorgänge in situ zu untersuchen, z.B. das Aufschmelzen von Legierungen oder den Transport von Flüssigkeiten durch poröse Werkstoffe. Neutronenquellen kombiniert mit Computertomographie machen es möglich, große Objekte mit speziellem Kontrast darzustellen, um z.B. die Wasserstoffverteilung in massiven Proben zu untersuchen.

Das Symposium “Tomographische Methoden zur Materialcharakterisierung” wird die Vorteile der µCT anhand von Expertenvorträgen mit Beispielanwendungen aus der Materialforschung darstellen.


Symposiumsorganisatoren (in alphabetischer Reihenfolge)

Mittwoch (18.09.2019)

Donnerstag (19.09.2019)

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